无论您的应用涉及显示屏、按钮、导线、电池、整机设备，还是印刷电路板和芯片等微电子组件及组件，Instron 都能提供全面的测试附件，用于拉伸、压缩、弯曲、剥离、剪切和穿刺测试。所有附件均专为满足电子和微电子测试所需的精度和重复性而设计——在这些测试中，力通常以毫牛顿为单位测量，试样尺寸以微米为单位。
挠性夹具
三点和四点弯曲夹具用于表征电子设备、组件和微型微电子组件的弯曲强度。除了下面列出的夹具外，Instron 还生产各种跨距更宽的较大型弯曲夹具，用于测试显示屏和全尺寸设备——请联系我们了解详情。
可选夹具
| 说明 | 容量 | 跨距 | 目录编号 | |
| 5 kN 挠性夹具 | 5 千牛 | 10 - 194 毫米 4 - 188 毫米 |
2810-400 | 更多信息 |
| 符合 JEDEC 9702 标准的 4 点弯曲夹具 | 5 kN | 最大上部：125 mm 最大下部：225 mm |
CP111689 | 联系我们 |
| 玻璃测试用 3 点和 4 点弯曲夹具 | 2 kN | 20 - 200 mm | CP120055 | 更多信息(在新标签页中打开) |
| 微型 3 点弯曲夹具 可选 4 点压头 |
2 kN 2 kN |
3 - 105 mm | 2810-412 2810-413 |
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| 微型 3 点弯曲夹具 | 1 kN 100 N |
3 - 10 mm 1 mm |
2810-411 2810-410 |
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| 符合 SEMI G86-0303 标准的高精度微型 3 点弯曲夹具 | 1 kN 1 kN |
3 - 10 mm 3 - 25 mm |
CP101568 CP117370 |
更多信息(在新标签页中打开) |
粘合剂测试夹具
剥离和螺柱拉拔夹具用于测试层压材料和粘合组件的粘合强度——包括印刷电路板上的铜线、薄膜涂层、胶带、半导体晶圆和其他粘合结构。
可选夹具
| 说明 | 容量 | 目录编号 | |
| 90° 剥离夹具(在新标签页中打开) | 1 kN | 2820-035 | 了解更多(在新标签页中打开) |
| 可变角度剥离夹具(在新标签页中打开) | 1 kN | 2820-036 | 了解更多(在新标签页中打开) |
| 微型 90 度剥离夹具(在新标签页中打开) | 1 kN | 2820-034 | 了解更多(在新标签页中打开) |
| 微型可变角度剥离夹具 | 1 kN | 2820-033 | 了解更多 |
| 螺柱拉拔夹具(在新标签页中打开) 螺柱拉拔测试试样制备夹具 |
5 kN | 2860-300 2860-301 |
了解更多(在新标签页中打开) |
| 阶梯式平口钳夹具 | 500 N | 2860-210 | 了解更多 |
三爪卡盘和测试探头
三爪卡盘是一种多功能夹具，用于在压缩测试期间夹持圆柱形或异形试样。卡盘上可以安装各种探头，用于对按钮、显示屏以及其他电子和微电子组件进行点式压缩测试——这提供了一种快速且安全的方法，使测试系统能够适应各种试样几何形状，而无需定制工具。
组件测试板是一个带有螺纹孔阵列的大型平板，可将难以测试的组件和组件固定在正确位置，以便进行拉伸、压缩、剥离或其他机械测试。螺纹孔阵列为定制夹具和夹钳提供了多个连接点，使其成为测试无法由标准夹具或装置夹持的组件的多功能平台。
AT2 自动 XY 平台
XY 自动平台可在单次测试运行中实现多个试样的自动压缩、弯曲和拉伸测试，或对具有多个测试点的设备和组件进行测试——与手动单点测试相比，显著提高了吞吐量和重复性。常用于显示屏、按钮、键盘和电子组件。
机架兼容性
| 说明 | 测试类型 | |
| 通用测试系统的 XY 自动平台 | 静态测试 | 了解更多 |
| ElectroPuls 系统专用 XY 自动平台(在新标签页中打开) | 疲劳测试 | 了解更多(在新标签页中打开) |
位移与夹持平台可实现测试试样在作动器下方的精确对位和对齐——这对于微电子测试至关重要，因为探头必须准确地对准目标组件或测试点的中心。常用于在测试系统中定位印刷电路板、芯片封装和其他小型组件。
扭转附件 3.0 可在 6800 系列通用测试系统上实现同步或独立的轴向和扭转测试——将实验室能力扩展到包括柔性电子产品、组件、按钮、导线和柔性印刷电路的扭转测试。非常适合模拟柔性电子产品在日常使用和组装过程中所承受的真实扭转和弯曲载荷。
通用测试机架可以添加数字 I/O 板和扩展通道，以与外部测量设备连接——包括微电子测试中用于将电输出与施加的机械载荷相关联的电压和电阻测量设备。这使得 Bluehill® Universal 软件能够同时采集机械和电气数据。
为了确保您的测试结果具有最高的质量，Instron 设计并制造了我们自己的所有载荷传感器。Instron 载荷传感器经过精心设计，能够满足材料测试系统的独特要求，包括在宽测量范围内的高精度、高刚度、抗偏移载荷、精确对准和出色的零稳定性。对于电子和微电子测试，我们提供各种适用于低力测试的低力值载荷传感器。
常用容量
许多电子设备和微电子元件在组装过程和正常使用中都需要承受极端温度。使用环境温度箱，您可以在 -100 °C 至 +350 °C 的各种温度条件下鉴定产品的性能。
爆破或穿刺夹具通常用于测试电池中的包装、织物、薄膜和隔膜，以确定材料对探针穿透的阻力。材料通常由一组夹紧环夹住，并承受实际使用过程中遇到的双轴应力。
可选夹具
| 说明 | 容量 | 目录编号 | |
| 符合 EN 14477 标准的穿刺测试夹具 包括两个直径为 0.8 mm 的探头 直径为 1 mm、半径为 0.5 mm 的探头 |
100 N | CP105780
CP114502 |
了解更多 |
| 符合 ASTM F1306 标准的穿刺测试夹具 | 10 kN | SI-14110 | 了解更多 |
| 球破裂压缩夹具 | 10 kN | 2810-195 | 了解更多(在新标签页中打开) |
6800 系列通用测试系统的宽度和高度可根据特定应用需求进行定制。超宽机架通常首选用于测试大型显示器、全尺寸笔记本电脑以及泡沫和塑料等电子包装材料。超宽机架还可配备 XY 自动平台，用于测试全尺寸键盘等大型设备。