Electronics

2 11 月, 2026

Instron 68TM universal testing system on a table with Expansion Channel Module - with a background showing close up up controller panel.

Synchronized Data Acquisition on the 6800 Series

Part 2 of our synchronized data acquisition series. Learn how the controller in every Instron 6800 Series system expands with Sensor Conditioning Modules, an Expansion Channel Module, and an I/O board, so you can add measurements and coordinate external equipment on one common timeline.

22 9 月, 2026

Instron 系统上的自动注射器测试设置，插图特写突出了同步音频和点击检测数据捕获。

同步数据采集详解

了解同步数据采集如何将力、位移和传感器数据连接在同一个时间线上，从而获得更深入的机械测试见解。

9 6 月, 2026

在黑暗的演播室设置中，一只手握着智能手机，显示一个带有“AI”字样的发光全息 AI 神经网络球体

AI 时代的半导体测试

随着 AI 将半导体设计推向 3D 封装、新材料和共封装光学领域，测试方法必须不断演进。

17 4 月, 2026

落锤冲击试验机如何改进拉伸强度冲击测试？

落锤拉伸冲击测试为材料在真实的快速加载条件下的表现提供了直接的实验见解。

22 8 月, 2025

如何将传感器连接到英斯特朗系统：四种方法

将第三方传感器和换能器（无论是用于力、应变、温度、压力还是位移）集成到 Instron 测试系统中，需要为您的设置选择正确的连接方法。本文涵盖了四种支持的方法：0–10V 模拟输入、在 Bluehill Universal 中具有自我识别和自动校准功能的合理化连接、针对非 Instron 换能器的自定义多项式校准，以及通过 HBM QuantumX MX430B 等第三方设备进行的数字数据输入。

2 9 月, 2022